測量原理
      上海自動化儀表有限公司的測量基于混合技術：由電容液位計和雷達液位計組成。該系統基于雷達技術，而對于接口應用，該方法與電容測量相結合。選擇這兩種技術是因為具有乳劑層的電容技術的性能和雷達的精確整體水平的性能。測量的參考點R位于過程連接處。
 

混合電容液位計/雷達液位計測量原理
哪里，
      R =參考測量點
      E =空校準（= 0）
      F =完全校準1 =跨度）
      LN =探頭長度
      UP厚度上部介質
      DL =距離水平完成
      LL =水平完成
      D1 =距離接口（距離法蘭/ DC2）
      L1 =水平接口（距離探頭端/ DC1）
測量范圍（示例）
      桿探針≤4米/ 13英尺
      繩索探頭≤10米/ 33英尺
      同軸探頭≤6米/ 20英尺
與乳劑層接口
      如果存在清晰的界面層，則混合系統通過引導雷達模式測量整體水平和界面。在后臺，電容液位計分析始終同時運行，并使用測量的距離和同軸探頭的已知電容液位計條件計算容量值，并從中獲得油層的DC值。該測量的DC值又用于通過油層的界面測量中的飛行時間校正，這使得可以測量界面。即使在上部烴層的大DC值波動中也是如此。
      在傳統的制導雷達探測器中，乳劑層導致界面表面信號的損失，但保持上層水平（例如油）�；旌想娙菀何挥�/雷達液位計自動切換到電容液位計模式并提供較低水平（水）。在存在乳液的情況下，混合電容液位計/雷達液位計測量乳劑下方的上層水平和下導電層。整個乳劑層是未知的。
限制
      上海自動化儀表有限公司的雷達液位計和電容液位計限制也適用于混合電容液位計/ 雷達液位計技術。在存在乳液的情況下，僅電容液位計技術測量水的存在。
      上層介質的DC應該是已知且恒定的。
      上層介質的DC可以不大于10。
      上部介質和下部介質之間的DC差異應> 10。
      上層和界面之間的距離應至少為60毫米。
      上部介質的電導率：<1μS/ cm
      下部介質的電導率：>100μS/ cm
      無法測量導致探頭結垢或沉積的介質。
選擇
      對于界面測量，理想的是使用腔室/籠/靜止井中的同軸探針或桿探針。同軸探針適用于粘度高達約500cst的液體。同軸探針可以測量大多數液化氣體，介電常數為1.4。當使用同軸探頭時，安裝條件，例如噴嘴，容器內部配件等對測量沒有影響。同軸探頭在塑料容器中使用時可提供最大的EMC安全性。
      如果有足夠的頭部空間來安裝桿探針，則可以在腔室/靜止孔中使用繩索探針。這可以排除繩索或探頭末端重量接觸管壁（直徑足夠大，精確垂直管）。
設計
      混合電容液位計/ 雷達液位計應具有適合應用的適當電平范圍的正確探頭。
安裝
      桿/繩探針可以安裝在靜止孔或腔室/籠中。在這種情況下，桿/繩探針的距離和腔/籠/靜止孔的內徑應在40mm和100mm之間。從桿/探頭末端到容器底部的距離應至少為10 mm。也可以使用同軸探針并將其安裝在距離容器壁任意距離處。在測量范圍內，桿/繩/同軸探頭不應與腔室/籠/靜止井壁接觸。如果需要，應使用中心磁盤。中心磁盤不應位于測量范圍內。
      對于長繩/同軸探頭，應考慮額外的重量或彈簧。
      對于地下容器，桿/繩/同軸探頭應設計成具有大的噴嘴直徑，以避免噴嘴壁處的反射。
      對于非金屬容器，建議使用同軸探頭。
      對于具有隔熱功能的船舶，電子外殼應位于船舶隔熱層外。這是為了防止電子設備因熱輻射或對流而升溫。
      絕緣不應超過下圖中標有“max”的點。
圖2

      具有隔熱功能的混合電容液位計或雷達液位計液位變送器安裝
接口電平測量的校準和配置
      校準在工廠中完成組裝。原位校準（低和高范圍）僅用于記錄線性度協議。如果校準值與工廠校準值不同，則應將其設置為自定義參數化。應該知道實際的上部介質DC值。
      濕校準：探頭可以在其全范圍內進行校準，即較低的接口水平（0％水平校準）和較高的接口水平（100％水平）。也可以執行其他中間值。低接口電平仿真旨在抑制虛假回波（用于雷達液位計測量）并為電容液位計部分提供0％電平值。高接口級仿真旨在為雷達液位計測量和電容液位計部分提供最大范圍值。
      干校準：可以通過輸入低電平和高電平值來模擬電平電容液位計。電容液位計單位將根據工廠校準自動計算電容液位計變化圖像≥100μS/ cm。