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2.2 相關(guān)術(shù)語和定義   
a 最低反射率(R min)： 掃描反射率曲線上最低的反射率值。  

b 最高反射率(R max )： 掃描反射率曲線上最高的反射率值。   
c 符號(hào)反差(SC)： 掃描反射率曲線的最高反射率與最低反射率之差。。    

d 總閾值(GT—Global Threshold)： 用以在掃描反射率曲線上區(qū)分條、空的一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)反射率值。掃描反射率曲線在總閾值線上方所包的那些區(qū)域，即空；在總閾值線下方所包的那些區(qū)域，即條。或 。    

e 條反射率(R b)： 掃描反射率曲線上某條的最低反射率值。    

f 空反射率(R s)： 掃描反射率曲線上某空的最高反射率值。    

g 單元(element)： 泛指條碼符號(hào)中的條或空。    

h 單元邊緣 (element edge)： 掃描反射率曲線上過毗鄰單元（包括空白區(qū)）的空反射率（ R s ）和條反射率（R b ）中間值（即 ）的點(diǎn)的位置。    

i 邊緣判定(edge determination)： 按單元邊緣的定義判定掃描反射率曲線上的單元邊緣。如果兩毗鄰單元之間有多于一個(gè)代表單元邊緣的點(diǎn)存在，或有邊緣丟失，則該掃描反射率曲線為不合格。空白區(qū)和字符間隔視為空。     
j 邊緣反差(EC)： 毗鄰單元（包括空白區(qū)）的空反射率和條反射率之差。。    

k 最小邊緣反差(EC min)： 掃描反射率曲線上所有邊緣反差中的最小值。     
l 調(diào)制度(MOD)： 最小邊緣反差(EC min )與符號(hào)反差(SC)的比。 。   

m 單元反射率不均勻性(ERN)： 某一單元中最高反射率與最低反射率的差。    
n 缺陷(defects)： 單元反射率最大不均勻性（ ERN max ）與符號(hào)反差（SC）的比。 。   

o 可譯碼性(decodability)： 與適當(dāng)?shù)膮⒖甲g碼算法相關(guān)的條碼符號(hào)印制精度的量度。    
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2.3  條碼符號(hào)質(zhì)量評(píng)定   
(1) 條碼符號(hào)質(zhì)量分級(jí)過程    
一條掃描反射率曲線的所有判定和參數(shù)（包括邊緣判定、譯碼、反射率參數(shù)、可譯碼性）的評(píng)定等級(jí)中最低的那一級(jí)就是該曲線的等級(jí)。    
對(duì)一個(gè)條碼符號(hào)檢驗(yàn)所得的 10條掃描反射率曲線的數(shù)字等級(jí)的算術(shù)平均值即該條碼符號(hào)印制質(zhì)量的評(píng)定等級(jí)。條碼符號(hào)的數(shù)字等級(jí)可以轉(zhuǎn)換成字母等級(jí)。    
(2) 分級(jí)的意義    
條碼符號(hào)的等級(jí)表明了其印制質(zhì)量及適用場(chǎng)合。 A級(jí)條碼符號(hào)通常能被很好地識(shí)讀，適用于各種場(chǎng)合。B級(jí)條碼符號(hào)在識(shí)讀過程中的表現(xiàn)不如A級(jí)，其中一些符號(hào)可能需要重復(fù)掃描。C級(jí)條碼符號(hào)可能需要更多次的重復(fù)掃描，通常要使用能重復(fù)掃描并具有特殊的多條掃描線的設(shè)備才能獲得好的識(shí)讀效果。D級(jí)條碼符號(hào)可能無法被某些識(shí)讀設(shè)備識(shí)讀，要獲得好的識(shí)讀效果，要使用能重復(fù)掃描并具有特殊的多條掃描線的設(shè)備。F級(jí)條碼符號(hào)是不合格品，不能使用，參見下圖。   

3、檢測(cè)設(shè)備    
條碼檢測(cè)常用設(shè)備的測(cè)量裝置應(yīng)該符合條碼檢測(cè) GB-T 14258-1993檢測(cè)方法的要求， 例如測(cè)量波長、光路、測(cè)量孔徑。檢測(cè)儀有很多類型，根據(jù)應(yīng)用領(lǐng)域的不同，可分為通用設(shè)備和專用設(shè)備。通用設(shè)備包括密度計(jì)、工具顯微鏡、測(cè)厚儀和顯微鏡。專用設(shè)備有便攜式條碼檢測(cè)儀和固定式條碼檢測(cè)儀。