一、簡述
應(yīng)變測試儀是針對印刷電路板應(yīng)力應(yīng)變測試應(yīng)用所進行設(shè)計的儀器，測試項目包括：錫球破裂、布線損毀、焊盤分離和基板分離等。提供實時數(shù)據(jù)監(jiān)控，避免測試過程中出現(xiàn)故障。
  二、應(yīng)用
  TSK-32-16C應(yīng)變測試儀廣泛應(yīng)用于電子產(chǎn)品等領(lǐng)域的測試，通過應(yīng)變、應(yīng)變速率上的客觀分析，為蘋果、華為、格力、美的等客戶的電路板工藝優(yōu)化提供了重要依據(jù)。
  三、特點
  1.設(shè)備輕巧、便攜
  2.可直接和應(yīng)變片相連
  3.允許120Ω或350Ω的1/4橋接入
  4.每通道采樣速率z高可達10kHz
  5.每通道同時使用抗混疊濾波器和模擬轉(zhuǎn)數(shù)字進行采樣
  6.提供高速型USB接口
  7.主機支持多款模塊
  8.符合IPC/JEDEC-9704標(biāo)準(zhǔn)的要求

四、參數(shù)
  1.測量類別：應(yīng)變
  2.測量對象：120Ω應(yīng)變片
  3.測量范圍：±55000με
  4.通道數(shù)：8通道、16通、24通道、32通道、40通道、48通道、64通道
  5.每通道Z高采樣率：10kHz
  6.AD分辨率：24bit
  7.精度：±0.3
  8．重量：0.8-3.5kg
  9.環(huán)境溫度：-40℃-70℃
  10.環(huán)境濕度：10-90
  11.接口：USB2.0
  12.輸入電壓：100VAV-240VAC
  五、軟件介紹
  1.具備一鍵輸出報告功能，報告符合IPC/JEDEC-9704標(biāo)準(zhǔn)
  2.支持多種語言，如英文、中文
3.提供diagonal strain、Max/Min principal strain、strain rate、Qstrain等數(shù)據(jù)分析