HP4349A電阻表存儲/取消,連續(xù)的存儲, HP-IB/ 處理器接口 / B+ b% b$ t) P9 DHP 4349A 是四通道高值電阻表9 x0 |! ]" O) m) iHP 4349A 四通道高值電阻表是配置允許4個電容器同時測試不同種的測試 V) c! u" _0 e電壓。. `1 w- G. `! d9 {( s高速測量: 11ms& F1 U0 u( e4 L+ f快速的解決時間4 [* n4 [8 G+ }) g/ {5 C2 u高速聯(lián)網(wǎng)檢查 & D; [) }# B, J7 P, d

精密低阻測量 在低電流電路中,機電元件的接觸故障是元件可靠性中的主要問題。HP 4338B提供可選擇的低交流測試信號(1μA~10mA)。用戶目前可在低電流的條件下來表征機電元件的低阻特性。10μΩ的高分辨率可用來確定繼電器、開關(guān)、接頭、印制電路板圖形和電纜在接觸電阻測試中的微小差別。1kHz測試信號消除了由熱電對被測元件接觸的影響而引入的潛在誤差。1kHz的交流測試信號是檢查電池內(nèi)阻的最好方法,因為它避免了直流能量的消耗。高速測量 高速(34ms)內(nèi)設(shè)比較器和HP-IB/處理器接口有可能用自動處理器和外部計算機構(gòu)成一個測量系統(tǒng),使測試時間縮短到最低限度。自動測量方式 在進(jìn)行大量連續(xù)的測試、而測試信號電平又不是很主要的因素時,自動測量功能會使儀器選擇合適的測試信號并設(shè)定測量范圍。技術(shù)指標(biāo)(全面的技術(shù)指標(biāo)請參閱技術(shù)資料)測量功能測量參數(shù):R(交流電阻),X(電抗),L(電感),|Z|(阻抗),θ(相位[°])組合參數(shù):R,R-X,R-L,|Z|-θ(只適用于串聯(lián)模式)數(shù)學(xué)功能:偏差和相對偏差(以百分比表示)顯示數(shù)字:3.4或5位(可選擇)測試信號特性測試頻率:1kHz頻率精度:&plun;0.1%測試信號電平:1μA,10μA,100μA,1mA,10mArms電平精度:&plun;(10%+0.2μA)樣品兩端的最大電壓:在任何情況下最大為20mV峰值測量范圍 參數(shù) 測量范圍 R 10μΩ~100kΩ X,|Z| 10μΩ~100kΩ (典型值) L 10nH~10H(典型值) θ -180°~+180°(典型值)測量精度:R的基本精度為&plun;0.4%測量時間:從觸發(fā)命令到處理器界面端口上的結(jié)束測量(EOM)信號輸出的時間間隔模式 時間(典型值)短 34ms中等 70ms長 900ms修正功能短路誤差為0:消除由測試夾具中雜散寄生阻抗引的測量誤差比較功能對每個一次測量參數(shù)和二次測量參數(shù)設(shè)立高/符合/低界限接觸檢查功能可以檢測測試夾具與器件之間的接觸故障其它功能疊加直流:在測量端可能給出&plun;42Vdc(最大值)存儲/調(diào)用:可以由內(nèi)部非易失存儲器對10種儀器設(shè)置進(jìn)行存儲/調(diào) 用連續(xù)存儲功能:若儀器被切斷或發(fā)生電源故障,儀器設(shè)置將自動被存 儲起來(在23&plun;5℃時≤72小時)HP-IB接口:所有控制設(shè)置、被測值和比較器信息處理器接口:所有輸出信號為負(fù)邏輯,光隔離開路集電極輸出信號包括:高/符合/低、變址,測量結(jié)束和告。輸入信號是健鎖定和外觸發(fā)一般指標(biāo)電源要求:198~2V,47~66Hz,45VAmax工作溫度:0°~45℃尺寸:320mm(寬)×100mm(高)×300mm(長)

4339B高電阻表是捷倫進(jìn)行精密高阻抗測量的最先進(jìn)的測試工具。測試序列編程功能提供自動測量過程(充電-測量-放電)。現(xiàn)已提供多種元件測試夾具和材料測試。主要技術(shù)指標(biāo)測量范圍寬量程:: 103 ohm 至 1.6x1016 ohm測量速度高速測量: 10 ms更多特性穩(wěn)定的測試夾具:電阻系數(shù)單元、元器件測試夾具測試序列編程電阻系數(shù)計算接地被測件測量

Agilent 4338B毫歐表詳細(xì)資料● 測試信號電流低且可選擇: 1uA to 10 mA● 測量范圍寬: 10u ohm to 100 k ohm● 分辨率: 10u ohm● 接觸檢查功能● 1KHz 交流測量● 測量速度高; 34 ms● 內(nèi)設(shè)比較器● 自動測量方式

Agilent4349B,4349B四通道高阻表的詳細(xì)信息Agilent捷倫4349B,4349B四通道高阻表的詳細(xì)特點:捷倫4349B可同時對4通道多個被測件進(jìn)行測量,增加測試吞吐率。測量范圍1*103Ω 至 1x1015Ω,基本精度為2%,具有接觸檢查功能。主要特性· 測量參數(shù):R(直流電阻)、I(直流電流)、ps(表面電阻率),pv(體電阻率)。· 測量范圍:電阻1*103Ω 至 1x1015Ω;電流1pA至100uA。· 測量速度:最快9.5ms的測量時間。· 基本測量精度:2%。· 4個通道,可用于多個被測件,4個通道可同時測試。· 接觸檢查功能:可以檢測測試夾具與器件之間的接觸故障,2毫秒/點,可靠的測試· GPIB和處理器接口