產品描述:
FISCHERSCOPE® X-RAY XDVM®-µ
新型號的FISCHERSCOPE® X-RAY XDVM®-µ是一款可靠的采用X-射線熒光方法和獨特的微聚焦X-射線光學方法來測量和分析微觀結構鍍層的測量系統。
它的出現解決了分析和測量日趨小型的電子部件,包括線路板,芯片和連接器等帶來的挑戰。這種創新技術的,目前正在申請專利的X-射線光學可以使得在很小的測量面積上產生很大的輻射強度,這就可以在小到幾十微米的結構上進行測量。
在經濟上遠遠優于多元毛細透鏡的Fischer專有X-射線光學設計使得能夠在非常精細的結構上進行厚度測量和成分分析。XDVM-µ可以勝任測量傳統的鍍層厚度測量儀器由于X-射線熒光強度不夠而無法測量到的結構。
具有強大功能的X-射線XDVM-µ帶WinFTM® V6 軟件可以分析包含在金屬鍍層或合金鍍層中多達24種獨立元素的多鍍層的厚度和成分。
技術參數:
作為眾多知名品牌的合作伙伴,以最優的價格+完善的售后體系向您提供產品。“第一、質量第一、價格最低”!

產品描述:
EX-3000熒光X線膜厚計
搭載MS-WINDOWS系統(優越的操作性與高精度測定)
與IBM PC 相容個人電腦
使用與IBM PC相容個人電腦,采用MS-WINDOWS軟體,使用時多彩多姿。
采用二種濾波器
用用數位式濾波器外另有機械式濾波器(兩種濾波器),在測定時,若是最適當的條件下,經常可得到最高的精度。
準值儀5種孔徑內藏式
最小的準值儀孔徑僅0.1 mm,可測定極微小的部品。
標準:0.1,0.2,0.5,1.0,2.0另備有2種特別規格可供選購。
0.05,0.1,0.2,0.3,0.5
0.05*0.5,0.1,0.2,0.3,0.5
自動測定測量臺
利用滑鼠來調整測量位置,非常敏捷快速。或是測量位置已完成登陸時,可連續自動測定,利用座標補正、連結,來應付各種測量軌跡。亦可用自動測定來作標準片校正。
優越的顯示機能
測定部顯示盡像的表示
X線照射部可由WINDOWS畫面上取得照射部的表示。從準儀照射測定物的位置,可由倍率率更機能來實現盡面上測出物放大。
在膜厚測定中的能譜表示
由多頻分析器可快速處理能譜分析。可執行測定物的能譜分析表示,操作簡單。
提長資料處理的速度
充實測量報告的作成機能
采用MS-WINDOW軟件,測定畫的擷取,非常簡便,可充襯測量報告的制作機能。可同時間隔處理多項工作,機器在測量中亦可處理其他工作:包括如測量報告的制作。
測定物膜厚附著分布表示
以三次元圖案來表示測定物膜厚附著狀態的分布,作判定時一目了然。
獲得心的性
自己診斷機能及X線管保食機能
自己診斷機能,迅速的對策來排除機器的因擾。附有X線管的使用時間及耐久時間表示機能,可加強保食的全性。
各機型別規格
機型
手動測量臺
自動測量臺
測
量
主
體
測量臺尺寸(mm)
170*110
240*220
移動量
X(mm)
70
200
Y(mm)
70
200
Z(mm)
50(最大150)
50
測定物最大高度(mm)
50(option 150)
50
尺寸(mm)
602(W)*463(D)*732(H)
重量(kg)
55
61
樣品最大何重(kg)
3
1
電腦
尺寸(mm)
本體182(W)*383(D)/顯示幕412(W)*415(D)*432(H)
重量(kg)
本體9/顯示幕16
印表機
重量(kg)
5.2
電源
AC100V±10V(option AC115V、AC230V)
技術參數:
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產品描述:
技術參數
1.Fischerscope X-RAY XUL-XYm是采用根據技術標準DIN50987,ISO3497和ASTM B568的X-射線熒光測試方法; 2.原始射線從下至上; 3.X-射線管高壓設定可調節至最佳的應用:50kV,40kV或30kV; 4.視準器組:圓直徑為0.3;在附加費用的基礎上可選擇0.05X0.3mm長方形視準器 5.測量箱外部尺寸:(高×寬×深)510 mm×455 mm×580 mm,重量大約為45kg; 6.帶槽箱體的內部尺寸:(高×寬×深)240 mm×360 mm×380mm)帶向上回轉箱門; 7.手動X-Y工作臺(平面板:360 mm寬×240 mm深),帶50 mm的X方向和50 mm的Y方向運行. 8.試件查看用標準的彩色攝像機; 9.測量開始/結束按鈕,及LED狀態指示燈與測試箱集成在一體。
主要特點
FISCHERSCOPE® XUL®設計為X-射線管和系統位于測量臺下部。因此測量方向從下往上。這也就提供了一個重要的優點,尤其對于測量各種不同幾何外形的小工件,例如螺絲、螺母、螺栓或各種各樣的電連接器。在絕大多數情況下,被測試工件的表面可直接放置于測量臺上,這就避免了在從上往下測量系統中需要的測量距離調整。測試點會自動地調整在正確的距離上。這就加快了測量的過程并且避免了由于工件定位不佳可能造成的測量誤差。- FISCHE是唯一一家實現了這種設計的X-射線熒光鍍層厚度測試儀器的制造廠商。 與WinFTM® V.6 軟件及校樣標準塊Gold Assay配合,XUL® 作為FISCHERSCOPE® GOLDLINE ASSAY的一部分,可以完美地適應于快速,非破壞性和精確的測量珠寶及中金的成分。
儀器介紹
適用于Windows®2000或選擇適用于Windows® XP的真Win32位程序帶在線幫助功能 頻譜庫中允許創建從元素鈦至鈾的任何一種新的應用 能通過“應用工具箱”(由一個帶所有應用參數的軟盤和校準標準塊組成)使應用的校準簡單 畫中畫測試件查看和數據顯示,帶快速移動焦距功能放大試件圖像;計算機生成的刻度的瞄準十字星,并有X-射線光束大小指示器(光束的大小取決于測量的距離) 圖形的用戶界面,測試件的圖像顯示可插入于測試報告中 測量模式用于: 單、雙及三層鍍層系統 雙元及三元合金鍍層的分析和厚度測量 雙層鍍層,其中合金鍍層在外層或在中間層的厚度測量和分析(兩層的厚度和合金成分都能被測量) 能分析多達四種金屬成分的合金;電鍍液中金屬離子含量; 可編程的應用項圖標,用于快速應用項選擇 完整的統計功能,SPC圖,標準的概率圖和矩形圖評估 報告生成,數據輸出 語言可選擇:英語,德語,法語,意大利語,西班牙語,及中文 菜單中的某些選擇項可授權使用 注:基礎WinFTM軟件版本不允許創建新的應用,所要求的應用不得不在定貨時明確。當校準標準塊與儀器一起定購時,可在交貨前預先創建應用。若沒有定購校準標準塊,則只可使用已預裝的*無需標準塊的測量應用。 可選擇的SuperWinFTM軟件(訂貨號602-950)提供了以下的附加功能: 可隨意創建測量應用 可把每種測量模式的測量范圍設定為想要的理論上的測量精度 快速的頻譜分析以決定合金成分
技術參數:
作為眾多知名品牌的合作伙伴,以最優的價格+完善的售后體系向您提供產品。“第一、質量第一、價格最低”!

產品描述:
應用 :
測量鍍金、涂層、薄膜、元素的成分或者是厚度,其可偵測元素的范圍: Ti(22)~U(92 )。行業 :五金類、螺絲類、 PCB 類、連接器端子類行業、電鍍類等。特色 :非破壞,非接觸式檢測分析,快速精準。
可測量高達六層的鍍層 (五層厚度 + 底材 ) 并可同時分析多種元素。相容Microsoft微軟作業系統之測量軟體,操作方便,直接可用Office軟體編輯報告 。
全系列獨特設計樣品與光徑自動對準系統。
標準配備: 溶液分析軟體 ,可以分析電鍍液成份與含量。
準直器口徑多種選擇,可根據樣品大小來選擇準值器的口徑。
移動方式:全系列全自動載臺電動控制,減少人為視差。
獨特2D與3D或任意位置表面量測分析。
雷射對焦,配合彩色CCD擷取影像使用point and shot功能。
標準ROI軟體 搭配內建多種專業報告格式,亦可將數據、圖形、統計等作成完整報告 。
光學2 0X 影像放大功能,更能精確對位。
單位選擇: mils 、 uin 、 mm 、 um 。
優於美製儀器的設計與零件可 靠度以及擁有價格與零件的最佳優勢。
儀器正常使用保固期一年,強大的專業技術支援及良好的售后。
測試方法符合 ISO 3497 、 ASTM B568 及 DIN 50987。
技術參數:
可測元素范圍:鈦(Ti) – 鈾(U)可測量厚度范圍:原子序22-25,0.1-0.8μm26-40,0.05-35μm43-52,0.1-100μm72-82,0.05-5μmX-射線管:油冷,超微細對焦高壓:0-50KV(程控)準直器:固定種類大小:可選0.1,0.2,0.3,0.4,1X0.4mm自動種類大小:可選0.1,0.2,0.3,0.4,0.05X0.4mm
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產品描述:
應用 :
測量鍍金、涂層、薄膜、元素的成分或者是厚度,其可偵測元素的范圍: Ti(22)~U(92 )。行業 :五金類、螺絲類、 PCB 類、連接器端子類行業、電鍍類等。特色 :非破壞,非接觸式檢測分析,快速精準。
可測量高達六層的鍍層 (五層厚度 + 底材 ) 并可同時分析多種元素。相容Microsoft微軟作業系統之測量軟體,操作方便,直接可用Office軟體編輯報告 。
全系列獨特設計樣品與光徑自動對準系統。
標準配備: 溶液分析軟體 ,可以分析電鍍液成份與含量。
準直器口徑多種選擇,可根據樣品大小來選擇準值器的口徑。
移動方式:全系列全自動載臺電動控制,減少人為視差。
獨特2D與3D或任意位置表面量測分析。
雷射對焦,配合彩色CCD擷取影像使用point and shot功能。
標準ROI軟體 搭配內建多種專業報告格式,亦可將數據、圖形、統計等作成完整報告 。
光學2 0X 影像放大功能,更能精確對位。
單位選擇: mils 、 uin 、 mm 、 um 。
優於美製儀器的設計與零件可 靠度以及擁有價格與零件的最佳優勢。
儀器正常使用保固期一年,強大的專業技術支援及良好的售后。
測試方法符合 ISO 3497 、 ASTM B568 及 DIN 50987。
技術參數:
可測元素范圍:鈦(Ti) – 鈾(U)可測量厚度范圍:原子序22-25,0.1-0.8μm26-40,0.05-35μm43-52,0.1-100μm72-82,0.05-5μmX-射線管:油冷,超微細對焦高壓:0-50KV(程控)準直器:固定種類大小:可選0.1,0.2,0.3,0.4,1X0.4mm自動種類大小:可選0.1,0.2,0.3,0.4,0.05X0.4mm
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