天津瑞利光電科技有限公司優(yōu)勢經(jīng)銷美國THORLABS色散測量儀Chromatis

產(chǎn)品型號：Chromatis

關鍵字：THORLABS色散測量儀Chromatis

關鍵字描述：Chromatis色散測量系統(tǒng)具有光纖耦合的穩(wěn)定鹵素光源，其有效波長范圍為500至2100 nm。

產(chǎn)品介紹：

用于測量色散的白光干涉儀

穩(wěn)定鹵素光源的寬帶發(fā)射

可安裝?1/2英寸和?1英寸的光學元件

標準測量模式，包含夾具和參考光學元件

0°反射

0° - 70°透射

5° - 70°角度反射

可選反射鏡對夾具

同時測量S偏振和P偏振

包含用于波長自校準的HeNe參考激光器

包含用于空間對準的紅光和綠光二極管激光器

可選兩個用戶可更換的探測器

機架式2U柜(3.5英寸面板高度)中包含電子設備

Chromatis色散測量系統(tǒng)可表征用于飛秒脈沖激光器的反射和透射光學組件的群延遲色散(GDD)特性。超快脈沖在通過光學系統(tǒng)傳播時會變寬；了解每個光學元件引起的GDD并適當補償失真，可以恢復短脈沖寬度。為了獲得高度準確和可靠的結果，Chromatis使用時域白光干涉儀(WLI)來測量GDD。該色散測量系統(tǒng)包含軟件，可指導用戶進行光束對準(條紋優(yōu)化)、自動找到零延時位置(max.條紋對比)并快速測量色散。

Chromatis色散測量系統(tǒng)具有光纖耦合的穩(wěn)定鹵素光源，其有效波長范圍為500至2100 nm。該寬帶光源可表征為用于鈦藍寶石、摻鐿光纖和摻鉺光纖激光器的超快光學元件。由于干涉圖是在時域中記錄，因此可以使用單個光電二極管探測器(而不是光譜儀)進行測量，并且內(nèi)置的HeNe參考激光器可對波長軸進行校準。該系統(tǒng)包括一個波長為500-1100 nm的硅光電二極管。但是，可以很容易地連接InGaAs探測器進行1000-1650 nm波長范圍內(nèi)的測量。

參數(shù)：

色散測量系統(tǒng)（不包括光學和鏡對夾具）

快速表征光學組件中的色散

寬帶光譜范圍：500-2100 nm

GDD測量精度：±5 fs2

反射和透射模式

組成：寬帶、低色散分束器和兩個延遲臂

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