RHESCA CSR-5000超薄膜附著強度測試儀 衡鵬供應


RHESCA CSR-5000超薄膜附著強度測試儀
基于JIS R-3255標準，以MICRO SCRATCH法評價光學薄膜、半導體擴散工程、表面改質以及記憶媒體等各種用途的薄膜與基材，或薄膜與界面之間的密著力（附著強度）的超薄膜附著強度測試儀。為成膜研究與測試所必備的測試設備。


CSR-5000超薄膜附著強度測試儀特點：
·CSR-5000采用高感度的能夠檢測出薄膜破壞的MICRO SCRATCH法，測試納米級別的薄膜的附著強度。
·可測量膜厚μm以下的超薄膜的密著強度。
·加熱環境下評價可能。
·鏡片等曲面測量可能。
·可以進行以特定荷重來評價的特定負荷測試
·測試部位的設定以及測試后的劃傷觀察等簡單易行
·測試不需要花費很多時間(1次測試約1～2分鐘)


RHESCA超薄膜附著強度測試儀CSR-5000規格
荷重檢出機構        荷重印加范圍        1mN ～1500mN
               荷重分解能        0.3mN
               允許過負荷        300%FS
剝離檢出（垂直方向） 檢出信號        加速度信號
               頻率范圍        20Hz ～10kHz
摩擦力檢出（水平方向） 檢出信號        速度信號
               頻率范圍        20Hz ～10kHz
傳感器勵振機構        勵振頻率        45Hz
               勵振振幅        0·5·10·20·40·50·80·100μm
探針                觸針形狀        Φ1.6×6.5mm
               尖端材質 / 尖端形狀 金剛石R 5?10?15?25?50?100μm
               尖端材質 / 尖端形狀 藍寶石R 250?500μm
Z 軸驅動機構
※荷重印加方向        驅動方式        步進馬達驅動
               驅動范圍        20mm
               驅動分解能        0.5μm
               驅動速度( 測試時) 0 ～20μm/s
               驅動速度( 準備時) 1mm/s
試料臺XY軸移動機構 驅動方式        千分尺手動調節
               移動范圍        ±6.5mm
Data輸出方式                                USB
尺寸及重量                                W540×D520×H630 (37kg) 含顯微鏡
電源                                        AC100V ～240V



了解更多：http://www.hapoin.com/pulltester/csr-5000.htm



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