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塞尺測量法,只需一套可隨身攜帶的塞尺就可隨時(shí)隨地進(jìn)行平面度的粗測。目前很多工廠仍使用該方法進(jìn)行檢測。由于其精度不高,常規(guī)最薄塞尺為10um,檢測效率較低,結(jié)果不夠全面,只能檢測零件邊緣。
液平面法,基于連通器工作原理,適合測量連續(xù)或不連續(xù)的大平面的平面度,但測量時(shí)間長,且對溫度敏感,僅適用于測量精度較低的平面。
激光平面干涉儀測量法,最典型的用法是平晶干涉法。但主要于測量光潔的小平面的測量,如千分頭測量面,量規(guī)的工作面,光學(xué)透鏡。
水平儀測量法,廣泛用于工件表面的直線度和平面度測量。測量精度高、穩(wěn)定性好、體積小、攜帶方便。但是用該方法測量時(shí)需要反復(fù)挪動(dòng)儀器位置,記錄各測點(diǎn)的數(shù)據(jù),費(fèi)時(shí)、費(fèi)力,調(diào)整時(shí)間長,數(shù)據(jù)處理程序繁瑣。
打表測量法,典型應(yīng)用為平板測微儀及三坐標(biāo)儀,其中優(yōu)以三坐標(biāo)儀為應(yīng)用最廣泛。測量時(shí)指示器在待測樣品上移動(dòng),按選定的布點(diǎn)測取各測量點(diǎn)相對于測量基準(zhǔn)的數(shù)據(jù),再經(jīng)過數(shù)據(jù)處理評定出平面度誤差。但其效率較低,通常一個(gè)樣品需要幾分鐘,離15ppm的期望相差甚遠(yuǎn)。
平面凹度是屬于形位公差中的一種,指物體表面具有的宏觀凹凸高度相對理想平面的偏差。在傳統(tǒng)的檢測方法中,平面度的測量通常有:塞規(guī)/塞尺測量法、液平面法、激光平面干涉儀測量法(平晶干涉法)、水平儀/數(shù)字水平儀測量法、以及打表測量法。
.依據(jù)GB/T 32147-2015
DIN44 904
EN12983等相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)要求:
.用于鍋具內(nèi)底部的凹度測量(熱沖擊變形):
.使用方法將鍋在電爐上加熱,直至200。C;
.加熱狀態(tài)下的凹度值為底部的中心點(diǎn)的數(shù)值:
·測試方法各標(biāo)準(zhǔn)可能會(huì)有差異,具體詳見各標(biāo)準(zhǔn)實(shí)際