2650 系列大功率 SourceMeter SMU 儀器專為高電壓/電流電子產(chǎn)品和功率半導(dǎo)體元件（例如二極管、FET 和 IGBT、高亮度 LED、直流至直流轉(zhuǎn)換器、電池、太陽(yáng)能電池及其他高功率材料、組件、模塊和部件）的檢定和測(cè)試而設(shè)計(jì)。 它們提供前所未有的功率、精度、速度、靈活性、易用性，可提高研發(fā)、生產(chǎn)測(cè)試和可靠性環(huán)境中的效率。 兩種儀器可以提供高達(dá) 3000V 或高達(dá) 2000W 的脈沖電流功率。
特點(diǎn)：
高度靈活的四象限電壓和電流源/負(fù)載，與高精度電壓表和電流表相耦合
源或阱 (2651A) 脈沖功率高達(dá) 2000W（±40V、±50A），或直流電源高達(dá) 200W（±10V@±20A、±20V@±10A、±40V@±5A）；輕松連接兩個(gè)器件（串聯(lián)或并聯(lián)）創(chuàng)建高達(dá) ±100A 或 ±80V 的解決方案
源或阱 (2657A) 直流或脈沖功率高達(dá) 180W（±3000V@20mA、±1500V@120mA）
內(nèi)置基于網(wǎng)絡(luò)瀏覽器的軟件
有數(shù)字化或積分測(cè)量模式可供選擇
TSP（測(cè)試腳本處理）技術(shù)
TSP-Link 通道擴(kuò)展總線
兼容于 8010 型高功率設(shè)備測(cè)試夾具和 8020 型高功率接口面板
免費(fèi)的測(cè)試腳本構(gòu)建器軟件工具
選配的 ACS 基礎(chǔ)半導(dǎo)體元器件檢定軟件

優(yōu)勢(shì)：
提供相比同類產(chǎn)品頗具優(yōu)勢(shì)的性能，具有 6? 位分辨率。
支持功率半導(dǎo)體、HBLED、光學(xué)設(shè)備、太陽(yáng)能電池、GaN、SiC 和其他復(fù)合材料與設(shè)備的檢定/測(cè)試。應(yīng)用范圍包括半導(dǎo)體接點(diǎn)溫度檢定；高速、高精度數(shù)字化；電遷移研究；以及高電流、高功率設(shè)備測(cè)試。
提供功率半導(dǎo)體器件檢定和測(cè)試所需的高壓，包括 GaN、SiC 及其他復(fù)合材料和器件、高達(dá) 3kV 的故障和漏電測(cè)試以及亞毫秒瞬態(tài)檢定。
支持通過任何瀏覽器、任何計(jì)算機(jī)、從全球任何地方進(jìn)行遠(yuǎn)程控制。
支持精確檢定瞬態(tài)和穩(wěn)態(tài)行為，包括快速變化的熱效應(yīng)。
可以與 2657A 型與 2600B 系列型號(hào)輕松地進(jìn)行系統(tǒng)集成。
讓多臺(tái) 2651A 和 2657A 與所選 2600B 系列 SMU 儀器組合成多達(dá) 32 條通道的集成系統(tǒng)
為封裝部件或晶片級(jí)高功率設(shè)備測(cè)試提供安全而方便的連接。
幫助您創(chuàng)建、修改、調(diào)試和存儲(chǔ) TSP 測(cè)試腳本。
開發(fā)、質(zhì)量檢驗(yàn)或故障分析期間執(zhí)行封裝部件檢定時(shí)，較大限度地提高工作效率。