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| 品牌：美國GE | 型號：K1SM | 加工定制：否 | ||||
| 類型：超聲波 | 測量范圍：10 | 分辨率：20*22 | ||||
| 尺寸：19*15 mm | 重量：0.05 kg |
美國GE探傷儀探頭 K..S，K..SM，K..SC和MK..S（粗晶探頭）：用于測試這樣一類的中等尺寸和大尺寸物體，它們的材料會通過聲波的散射作用（例如灰口鑄鐵、非鐵重金屬材料或者塑料合成材料等制成的物體）而導致高的聲波衰減,它們也可以用于測試材料的物理特性（例如建筑材料、巖芯和半導體材料的特性）。
|
類型 [訂購號碼] |
D[mm] [mm] | f [MHz] | AB | N [mm] | EB [mm] |
聲束形狀 編號 |
備注 | 草圖 |
| 特性帶寬：25% | ||||||||
|
B0.5SL B1SL B2SL |
34 34 30 |
0.5 1 2 |
175-480 80-1600 40-3100 |
23 46 71 |
10 8 5 |
0.5-34 1-34 2-30 |
類型1 | |
|
B1S B2S B4S B5S |
24 24 24 24 |
1 2 4 5 |
70-1200 23-3000 15-3000 15-6000 |
23 45 88 110 |
6 5 3 3 |
1-24 2-24 4-24 5-24 |
提供連接器頂端類型B.S-O | 類型2 |
|
MB2S MB4S MB5S |
10 10 10 |
2 4 5 |
30-800 15-1500 10-2000 |
8 16 20 |
4 3 3 |
2-10 4-10 5-10 |
提供連接器頂端類型MBS-O | 類型3 |
| 特性帶寬：60% | ||||||||
|
K0.5S K1S K0.5SM K1SM |
34 34 28 28 |
0.5 1 0.5 1 |
100-250 50-1350 80-145 40-780 |
23 46 15 31 |
10 6 8 6 |
0.5-34 1-34 0.5-28 1-28 |
具有強聲波衰減的材料試的粗粒探頭 |
類型1 類型1 類型2 類型2 |
| 合成單元，特性帶寬：80% | ||||||||
|
K1SC K2SC MK1S MK2S MK4S |
24 24 10 10 10 |
1 2 1 2 4 |
35-1200 18-3000 30-350 15-700 10-1300 |
23 45 4 8 16 |
6 3 6 3 2 |
1-24 2-24 1-10 2-10 4-10 |
粗粒探頭 特別適合于拉鏈技術中塑料的測試 |
類型2 類型3 |
| 附件描述 | 類型 | 備注 |
|
保護膜 （1組=10片） 延遲線或延遲楔 探頭電纜（2米）耦合劑 DGS標尺 |
ES57 ES45 ES24 承索 PKLL2 MPKL2 ZG-F |
用于B..SL;K..S 用于B..S;K..SM;K..SC 用于MB..S;MK..S 如用于高溫下的測試 用于B..和K.. 用于MB..S；MK..S 見36頁 見35頁 |
