近場(chǎng)探頭

近場(chǎng)探頭用于配合頻譜分析儀或EMI接收機(jī)EM5080系列查找干擾源。在認(rèn)證機(jī)構(gòu)中，使用經(jīng)過(guò)各類校準(zhǔn)的天線進(jìn)行輻射泄露測(cè)試，都是進(jìn)行的遠(yuǎn)場(chǎng)測(cè)量。標(biāo)準(zhǔn)的遠(yuǎn)場(chǎng)輻射泄漏測(cè)試，可以準(zhǔn)確定量的告訴我們被測(cè)件是否符合相應(yīng)的 EMI 標(biāo)準(zhǔn)。但是遠(yuǎn)場(chǎng)測(cè)試無(wú)法告訴工程師，嚴(yán)重的輻射問(wèn)題到底是來(lái)自于殼體的縫隙，還是來(lái)自連接的電纜，或USB ，LAN 之類的通信接口。

EM5030 是一款主要用于查找干擾源，判定干擾產(chǎn)生原因的高性價(jià)比近場(chǎng)探頭。可用來(lái)檢測(cè)器件表面的磁場(chǎng)方向以及強(qiáng)度；檢測(cè)磁場(chǎng)耦合的通道，從而調(diào)整連接器位置；檢測(cè)模塊附近的磁場(chǎng)環(huán)境。為了降低干擾，尋找到真正的干擾源或者是其傳播的途徑是非常有必要的，通過(guò)近場(chǎng)探頭測(cè)量可以很方便地實(shí)現(xiàn)定位功能。通過(guò)配合優(yōu)測(cè)的EM5020 前置放大器可以提高系統(tǒng)測(cè)試靈敏度。大大的減少產(chǎn)品的研發(fā)周期，減少往返實(shí)驗(yàn)室的時(shí)間和金錢(qián)，減少不必要的錯(cuò)誤測(cè)試。EM5030 近場(chǎng)探頭就是解決問(wèn)題的最好利器！

【近場(chǎng)探頭產(chǎn)品規(guī)格】

【 前置放大器規(guī)格】

EM5020B放大器

近場(chǎng)探頭EM5030/EM5030LF，是兩款主要用于電磁兼容整改時(shí)定位干擾源的近場(chǎng)探頭。EM5030的頻率范圍是30MHz-3GHz，EM5030LF的頻率范圍是1MHz-50MHz。 當(dāng)產(chǎn)品的輻射或傳導(dǎo)干擾超過(guò)標(biāo)準(zhǔn)時(shí)，可用近場(chǎng)探頭來(lái)尋找產(chǎn)品中哪個(gè)元件或電路產(chǎn)生了該頻率的干擾。EM5030/EM5030LF是一種磁場(chǎng)（H）探頭，它有效地屏蔽了電場(chǎng)干擾（E），可以精確定位磁場(chǎng)干擾源。當(dāng)干擾信號(hào)比較弱時(shí)，可以配合本公司的EM5020A(20dB增益)或者EM5020B(30dB增益)前置放大器可以提高系統(tǒng)測(cè)試靈敏度。