產品參數
品牌	村田
產地	日本
包裝	袋裝
頻率	0-11G
外型	T型
數量	9999
可售賣地	全國
用途	射頻測試

在僅僅三十年的時間里，射頻探針技術便取得了驚人的進步，從低頻測量到適用多種應用場合的商用方案：如在110GHz高頻和高溫環境進行阻抗匹配，多端口，差分和混合信號的測量裝置，連續波模式中直到60W的高功率測量，以及直到750GHz的太赫茲應用，都能見到射頻探針的身影。村田電纜探針主要用于實驗室評估。就是把探針與SMA接口延長了，在中間加了一斷細軟射頻線，長度通常為300mm，測量射頻電纜裝配探針。配合完成后，探針可憑借與連接器接觸點上的夾爪自行站立，配合完成后對探針施加的任何壓力都可能導致探針脫落，連接受損或電級剝離。需要細心使用測試。常用型號有MXHS83QE3000,MXHQ87WJ3000,MXHQ87WA3000,MXHQ87PA3000,MXHQ87PK3000，MXHQ87PP3000,MXHQ87PN3000等。
村田探針主要有這幾種類型：村田無電纜探針，村田電纜探針，無浮動機構的自動探針，帶浮動機構的自動探針，自動探針（無張力型），校準適配器。

村田校準適配器用于探針的校準。適配器一側帶有SMA接頭，另一側匹配村田連接器形狀，可以連接網絡分析儀和相應探針進行校準。常用型號有MM126312,MM126712等。
村田無浮動機構的自動探針可用于產線大批量測試。探針內置在測量裝置內，與連接器加壓連接，探針不帶夾爪鎖固功能，因此不會使連接器受損，探針不帶浮動機構，因此測量裝置應具備浮動機構。常用型號有MM126036??MM126038??MM126048,MM126310等。其他一些相關的概念Probe?pitch：指的是針尖(Probe?Tips)之間的間距，一般在50-1000um之間不等。對于毫米波頻率的應用，針尖間距一般都比較小。Probe?skate?:當你在Z軸方向往下“按壓”探針時，當探針接觸到DUT，它將在ZY平面彎曲移動。通常，這也是我們判斷針是否扎上的一個現象。De-embeding?:去嵌是在探針出現之前就有的技術，之前經常用在一些標準的分立的夾具測試中