X熒光分析儀

X-RAY熒光光譜儀 X-RAY熒光分析儀

X射線熒光分析儀應(yīng)用領(lǐng)域，主要應(yīng)用于科研及X熒光光譜儀領(lǐng)域，對(duì)于ROHS檢測(cè)、

檢測(cè)、合金檢測(cè)、塑料檢測(cè)、土壤重金屬檢測(cè)、礦石、材料檢測(cè)以及石油檢測(cè)。

技術(shù)參數(shù):

一、分析范圍S U·

精度 RSD≤0.05%  Au≥90%

測(cè)試樣品的物理狀態(tài)固體、粉末、液體.

光管電壓5KV~50KV/ .

高壓電源5~50KV.

光管管流50uA~1000Ua.

CCD攝像頭

準(zhǔn)直器\濾光片自動(dòng)切換系統(tǒng)

探測(cè)器Amptek Si-Pin/SDD.

分辨率Si-pin160+5eVISDD13515eV.

測(cè)試時(shí)間30sec ~300sec.

ROHS分析常見(jiàn)元素 Cd、Pb、Hg、Br、Cr、C1.

分析軟件:定性定量分析軟件.