英國牛津Oxford CMIEZ 涂層測厚儀

不同種類的測厚儀應(yīng)用：

1、激光測厚儀是利用激光的反射原理，根據(jù)光切法測量和觀察機(jī)械制造中零件加工表面的微觀幾何形狀來測量產(chǎn)品的厚度，是一種非接觸式的動態(tài)測量儀器。它可直接輸出數(shù)字信號與工業(yè)計算機(jī)相連接，并迅速處理數(shù)據(jù)并輸出偏差值到各種工業(yè)設(shè)備。
2、X射線測厚儀利用X射線穿透被測材料時，X射線的強(qiáng)度的變化與材料的厚度相關(guān)的特性，滄州歐譜從而測定材料的厚度，是一種非接觸式的動態(tài)計量儀器。它以PLC和工業(yè)計算機(jī)為核心，采集計算數(shù)據(jù)并輸出目標(biāo)偏差值給軋機(jī)厚度控制系統(tǒng)，達(dá)到要求的軋制厚度。主要應(yīng)用行業(yè)：有色金屬的板帶箔加工、冶金行業(yè)的板帶加工。
3、紙張測厚儀：適用于4mm以下的各種薄膜、紙張、紙板以及其他片狀材料厚度的測量。
4、薄膜測厚儀：用于測定薄膜、薄片等材料的厚度，測量范圍寬、測量精度高，具有數(shù)據(jù)輸出、任意位置置零、公英制轉(zhuǎn)換、自動斷電等特點。
5、涂層測厚儀：用于測量鐵及非鐵金屬基體上涂層的厚度。
6、超聲波測厚儀：超聲波測厚儀是根據(jù)超聲波脈沖反射原理來進(jìn)行厚度測量的，滄州歐譜當(dāng)探頭發(fā)射的超聲波脈沖通過被測物體到達(dá)材料分界面時，脈沖被反射回探頭，通過精確測量超聲波在材料中傳播的時間來確定被測材料的厚度。凡能使超聲波以一恒定速度在其內(nèi)部傳播的各種材料均可采用此原理測量。

測量范圍
測量范圍 → 0-1250um
工作電源 → 兩節(jié)五號電池
測量精度誤差 → 零點校準(zhǔn) ±（1.5+3%H）；二點校準(zhǔn)±（1%～3%）H+1.5
環(huán)境溫度 → 環(huán)境溫度0-40℃
相對濕度 → ≤85%
最小基體 → 10*10mm
最小曲率 → 凸5mm;凹5mm
最薄基體 → 0.4mm
重量 → 99克（含電池）
尺寸 → 102mm*66mm*24mm
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