CAL鍍層標準片又名膜厚儀校準片，專業用于X射線測厚儀（膜厚儀）在測金屬鍍層厚度時進行的標準化校準及建立測試檔案。也就是我們在膜厚測試中常用的標準曲線法，是測量已知厚度或組成的標準樣品，根據熒光X-射線的能量強度及相應鍍層厚度的對應關系，來得到標準曲線。之后以此標準曲線來測量未知樣品，以得到鍍層厚度或組成比率。對于PCB、五金電鍍和半導體等行業使用測厚儀來檢測品質和控制成本起到了很重要的作用。  

CAL鍍層標準片適用于費希爾Fischer、宏德Roentgenanalytik、牛津Oxford、CMI、熱電Thermo、Veeco、微先鋒MicroPioneer、精工Seiko、島津、電測、博曼BOWMAN、禾苗、納優、天瑞、華唯等各廠牌X-ray（X射線測厚儀）、β-ray（β射線測厚儀）、磁感式及渦電流等多種原理的設備。  

美國CALMETRIC公司的所有標準片，都會對標準片進行重新鑒定，其所有證書都是符合NIST（NationalInstituteofStandardsandTechnology美國國家標準與技術研究院）標準或ANSI（AmericanNationalStandardsInstitute美國國家標準學會）標準。每一片標準片都由具有資質的獨立第三方出具校準證書。  

美國CAL標準片，CALMETRIC標準片，CMI標準片，測厚儀標準片，CAL校正片，又稱標準箔，膜厚片，通用于所有X射線鍍層測厚儀(進口品牌Fischer、Oxford（CMI）、Thermo、Veeco、MicroPioneerXRF-2000、SeikoSII等，國產天瑞，納優等)。  

1.薄膜片，單層測量品種：鎳（Ni）；鉻（Cr）；銅（Cu）；鋅（Zn）；Cd（鎘）；錫（Sn）；銀（Ag）；金（Au）；鈀(Pd)等，其它鍍層可定制.  

2.CAL鍍層標準片：雙鍍層：Au/Ni/xx，三鍍層：Au/Pd/Ni/xx等.  

3.合金標準片：合金鍍層測量：Sn-Pb、Cu-Zn、Zn-Ni、Ni-P等.  

4.測量厚度范圍：0.01~300μm.

更多：CAL鍍層標準片 http://www.kindtec.com/SonList-1318884.html

http://www.chem17.com/st318610/erlist_1318884.html