1734-TB3   卡件 

 
維修經驗總結 
一.帶程序的芯片 
1.EPROM芯片一般不宜損壞.因這種芯片需要紫外光才能擦除掉程序, 
故在測試中不會損壞程序.但有資料介紹:因制作芯片的材料所致,隨著 
時間的推移(年頭長了),即便不用也有可能損壞(主要指程序).所以要 
盡可能給以備份. 
2.EEPROM,SPROM等以及帶電池的RAM芯片,均極易破壞程序.這類芯片 
是否在使用<測試儀>進行VI曲線掃描后,是否就破壞了程序,還未有定 
論.盡管如此,同仁們在遇到這種情況時,還是小心為妙.筆者曾經做過 
多次試驗,可能大的原因是:檢修工具(如測試儀,電烙鐵等)的外殼漏電 
所致. 
3.對于電路板上帶有電池的芯片不要輕易將其從板上拆下來. 
二.復位電路 
1.待修電路板上有大規(guī)模集成電路時,應注意復位問題. 
2.在測試前裝回設備上,反復開,關機器試一試.以及多按幾次復 
位鍵. 

1734-TB3   卡件 

1734-232ASC

1734-485ASC

1734-ACNR

1734-ADN

1734-AENT

1734-AENTR

1734-APB

1734-ARM

1734-CTM

1734-EP24DC

1734-FPD

1734-IA2

1734-IA4

1734-IB2

1734-IB4

1734-IB4D

1734-IB8

1734-IB8S

1734-IE2C

1734-IE2V

1734-IE4C

1734-IE4S

1734-IE8C

1734-IJ

1734-IK

1734-IM2

1734-IM4

1734-IR2

1734-IR2E

1734-IT2I

1734-IV2

1734-IV4

1734-IV8

1734-OA2

1734-OA4

1734-OB2

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1734-OB2EP

1734-OB4

1734-OB4E

1734-OB8

1734-OB8E

1734-OB8S

1734-OE2C

1734-OE2V

1734-OE4C

1734-OV2E

1734-OV4E

1734-OV8E

1734-OW2

1734-OW4

1734-OX2

1734-PDN

1734-RTB

1734-RTB3

1734-RTB3S

1734-RTBCJC

1734-RTBS

1734-SSI

1734-TB

1734-TB3

1734-TB3S

1734-TBCJC

1734-TBS

1734-TOP

1734-TOP3

1734-TOP3S

1734-TOPS

1734-VHSC24

1734-VHSC5

1734-VTM

Allen-Bradley（羅克韋爾），Schneider（施耐德），Siemens（西門子），GE（通用電氣），ABB，
Omron（歐姆龍），IFM（易福門），Emerson（艾默生），F(xiàn)anuc（發(fā)那科），F(xiàn)oxboro（福克斯波羅），
Westinghouse（西屋），Honeywell（霍尼韋爾），Panasonic（松下），Mitsubsihi（三菱），
Beckhoff（倍福），Yaskawa（安川），Pepperl+fuchs（倍加福），B&R（貝加萊），Danfoss（丹佛斯）
，F(xiàn)uji（富士），F(xiàn)esto（費斯托），Phoenix（菲尼克斯），Koyo（光洋），Yokogawa（橫河），
Heidenhain（海德漢），Hydac（賀德克），Hirschmann（赫斯曼），Keyence（基恩士），Moeller（穆勒），
Kuka（庫卡），Kollmorgen（科爾摩根），Lenze（倫茨），Rosemount（羅斯蒙特），LG，LS（產電），
Rexroth（力士樂），Leuze（勞易測），Norgren（諾冠），Pilz（皮爾茲），Pro-face（普洛菲斯），
SMC，Sanyo（三洋），Delta（臺達），Turck（圖爾克），Sick（施克），Sharp（夏普），Eaton（伊頓）
,bently (本特利）