Renishaw雷尼紹XM-60多光束激光干涉儀北京


只需一次設定即可在任意方向測量6個自由度！

獨特的技術、光學滾擺測量以及光纖發射器
XM-60是一款激光測量系統，只需一次設定即可沿線性軸同時測量6個自由度的誤差。它具有強大的診斷工具，通過一次采集就可以測量軸的所有幾何誤差。
對于執行空間補償的用戶來說，XM-60為他們獲得所需數據組提供了一種快速精準的方法。所有測量均為光學測量，可在任意方向執行。

主要特性與優點：
·快速 — 利用傳統激光技術，一次安裝即可同時測量線性、俯仰、
扭擺、滾擺、水平方向和垂直方向直線度。
·簡單 — 設定簡單，其他干涉儀系統使用者很快就能熟練使用。自
動檢測軸的正負方向和圖形準直減少了人為誤差。
·可靠 — 直接測量所有誤差，允許用戶在測試過程中查看結果。
·強大 — 獨特的光學滾擺測量系統能夠在任一方向執行滾擺測量。





概述
輕型發射器通過光導纖維遠離發熱的激光源，從而減少測量點處的熱影響。發射器可直接通過其側面甚至后面安裝到機器上或者上下倒置安裝，非常適用于難以接近的機器區域。
接收器可進行完全無線操作，由充電電池供電，從而在機器移動中避免電纜拖拽，因為在測量過程中電纜拖拽可能會引起誤差或激光束“斷光”。
XM-60隨附CARTO 2.0軟件包，可指導用戶完成測量過程。CARTO包括Capture（數據采集）和Explore（數據瀏覽）應用，可按照國際上各種主要標準提供數據采集和分析功能。

性能技術指標：

1、線性
測量精度：±0.5 ppm（使用環境補償）
分辨率：1 nm
測量范圍：0 m至4 m

2、角度（俯仰/扭擺）
精度：±0.006A ±(0.5微弧度 +0.1M微弧度)
(M = 測量的距離，單位：米)
(A = 顯示的角度讀數)
分辨率：0.03微弧度
測量范圍：±500微弧度

3、直線度
測量精度：±0.01A ±2 μm
(A = 顯示的直線度讀數)
分辨率：0.25 μm
測量范圍;250 μm（半徑）

4、滾擺
精度：±0.01A ±9.1微弧度
(A = 顯示的角度讀數)
分辨率：0.5微弧度
測量范圍：±500微弧度
注：精度值指標為95%的統計置信度 (k=2)。精度值不包括將材料溫度歸一化為20 °C時與其有關的誤差。