QFN520.4測(cè)試座國產(chǎn)替代790-610
深圳市鴻怡電子有限公司
主營:ICsocket、IC老化座、IC燒錄座
2025/2/11
LCC48-0.5老化座定制MEMS加速度計(jì)
LCC4-0.8老化座微小雙極晶體管Bipo
QFP320.8翻蓋老化座燒錄MCU測(cè)試調(diào)試
TO252-3L50A電流脈沖測(cè)試座高壓大電
QFN68-0.35非標(biāo)老化座下壓結(jié)構(gòu)IC測(cè)
EMMC169\/153現(xiàn)代H26M2100
DDR3內(nèi)存條測(cè)試治具8位顆粒一拖八導(dǎo)電膠測(cè)
QFN48-0.35HAST測(cè)試座5x5mm
DDR3x8一拖八合金內(nèi)存條測(cè)試治具內(nèi)存條測(cè)
浙公網(wǎng)安備 33010802004809號(hào) 浙B2-20080178-157 Copyright 2025 線纜網(wǎng) All Rights Reserved 技術(shù)支持:機(jī)電之家 服務(wù)熱線:0571-87774297 傳真:0571-87774298